Fornal, TadeuszTadeuszFornalMalinowski, JerzyJerzyMalinowskiCentrum Naukowo-Produkcyjne Półprzewodników i Mikroelektroniki. Instytut Technologii Elektronowej2024-10-242024-10-241977https://hdl.handle.net/20.500.14629/4822PublicDomainElementy optoelektroniczne - Metody pomiaru parametrów fototranzystorów - Postanowienia ogólne BN-77/3375-44 Arkusz 00IndustryStandardBN-77/3375-44 Arkusz 00BN-3375-44-00:19777674application/pdf