Publication details
Alternative title
Method of measuring voltage drop across a contact point between implanted material and probe electrode
Type
Subtype
Invention
Publisher
Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej
Date
1995
Abstracts and keywords
Abstract (PL)
Sposób pomiaru spadku napięcia na zestyku materiał implantowany - elektroda probiercza, polegający na pomiarze spadku napięcia przy zadanej wartości prądu stałego i określonej sile docisku elektrody probierczej do materiału implantowanego charakteryzuje się tym, że badany materiał umieszcza się w implantatorze, kolejno poddaje się go implantacji, mierzy się spadek napięcia, podczas zatrzymania implantacji, przy czym pomiar spadku napięcia powtarza się przy kolejnych dawkach jonów implantowanych, aż do momentu osiągnięcia ustalonej wartości spadku napięcia w niezmiennym układzie pomiarowym i tych samych warunkach.
Additional information
Application date
1995-06-08
WUP publication date
1999-04-30
Exclusive right number
Pat.176165
Żukowski, P., Karwat, C., Komarow, F. F., Latuszyński, A., Liśkiewicz, J., Mączka, D., Partyka, J., & Węgierek, P. (1995). Sposób pomiaru spadku napięcia na zestyku materiał implantowany - elektroda probiercza. https://hdl.handle.net/20.500.14629/17412

Loading...
License
Accessibility issue?Request a WCAG-compliant file
Publication available in collections