Sposób pomiaru spadku napięcia na zestyku materiał implantowany - elektroda probiercza

Sposób pomiaru spadku napięcia na zestyku materiał implantowany - elektroda probiercza, polegający na pomiarze spadku napięcia przy zadanej wartości prądu stałego i określonej sile docisku elektrody probierczej do materiału implantowanego charakteryzuje się tym, że badany materiał umieszcza się w implantatorze, kolejno poddaje się go implantacji, mierzy się spadek napięcia, podczas zatrzymania implantacji, przy czym pomiar spadku napięcia powtarza się przy kolejnych dawkach jonów implantowanych, aż do momentu osiągnięcia ustalonej wartości spadku napięcia w niezmiennym układzie pomiarowym i tych samych warunkach.

Date of filing with the Polish Patent Office or with the competent office abroad

1995-06-08

Date of publication in ‘WUP’ or equivalent foreign bulletin

1999-04-30

Exclusive right number

Pat.176165

Statistics

1Views

Żukowski, P., Karwat, C., Komarow, F. F., Latuszyński, A., Liśkiewicz, J., Mączka, D., Partyka, J., & Węgierek, P. (1995). Sposób pomiaru spadku napięcia na zestyku materiał implantowany - elektroda probiercza. Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej. https://hdl.handle.net/20.500.14629/17412

Licence

Accessibility issue?Request a WCAG-compliant file

Publication available in collections:

Inventions