Sposób oceny szybkości degradacji powłok ochronnych styków łączników aparatowych niskiego napięcia

Abstract

Sposób oceny szybkości degradacji powłok ochronnych styków łącznika aparatowego niskiego napięcia umieszczonego w obwodzie prądu stałego lub przemiennego z zadaną wartością natężenia prądu, w którym łącznik poddaje się wielokrotnemu załączaniu i wyłączaniu, charakteryzuje się tym, że łącznik o stykach z powłoką ochronną o zadanej grubości w obwodzie o zadanym natężeniu prądu, nie większym od wartości znamionowej poddaje się wielokrotnemu załączaniu o czasach załączenia 0,5 - 10 s, korzystnie 2s i czasie wyłączenia 0,5 - 10 s, korzystnie 1s, następnie na rezystancji zestykowej łącznika w stanie zamkniętym w każdym cyklu łączeniowym, dokonuje się pomiaru i rejestracji wartości spadku napięcia (ΔUmin), występująca degradacja powierzchni powoduje wzrost rezystancji zestykowej i następuje gwałtowny wzrost spadku napięcia do większej wartości (ΔUmax), zaś liczba cykli (Nśr), przy której nastąpił gwałtowny wzrost napięcia na rezystancji zestykowej określa szybkość degradacji powłoki ochronnej styków.