Sposób oceny szybkości degradacji powłok ochronnych styków łączników aparatowych niskiego napięcia
Alternative title
Method of assessing the speed of degradation of protective coatings of the low-voltage apparatus switches contacts
Type
Patent
Subtype
Invention
Authors/Creators
Publisher
Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej
Date
2009
Abstract PL
Sposób oceny szybkości degradacji powłok ochronnych styków łącznika aparatowego niskiego napięcia umieszczonego w obwodzie prądu stałego lub przemiennego z zadaną wartością natężenia prądu, w którym łącznik poddaje się wielokrotnemu załączaniu i wyłączaniu, charakteryzuje się tym, że łącznik o stykach z powłoką ochronną o zadanej grubości w obwodzie o zadanym natężeniu prądu, nie większym od wartości znamionowej poddaje się wielokrotnemu załączaniu o czasach załączenia 0,5 - 10 s, korzystnie 2s i czasie wyłączenia 0,5 - 10 s, korzystnie 1s, następnie na rezystancji zestykowej łącznika w stanie zamkniętym w każdym cyklu łączeniowym, dokonuje się pomiaru i rejestracji wartości spadku napięcia (ΔUmin), występująca degradacja powierzchni powoduje wzrost rezystancji zestykowej i następuje gwałtowny wzrost spadku napięcia do większej wartości (ΔUmax), zaś liczba cykli (Nśr), przy której nastąpił gwałtowny wzrost napięcia na rezystancji zestykowej określa szybkość degradacji powłoki ochronnej styków.
Date of filing with the Polish Patent Office or with the competent office abroad
2009-04-06
Date of publication in ‘WUP’ or equivalent foreign bulletin
2013-09-30
Exclusive right number
Pat.214902
Statistics
Żukowski, P., Karwat, C., Kozak, C. M., & Kolasik, M. (2009). Sposób oceny szybkości degradacji powłok ochronnych styków łączników aparatowych niskiego napięcia. Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej. https://hdl.handle.net/20.500.14629/17164

Files
miniaturka.jpg
JPG 281.25 KB
Licence
Accessibility issue?Request a WCAG-compliant file
Publication available in collections: