Elementy optoelektroniczne - Fotorezystory - Metody pomiaru rozkładu widmowego czułości BN-83/3375-02.03

Type
Industry standard
Authors/Creators
;;
Publisher
Wydawnictwa Normalizacyjne
Date
1983
Additional information
Zgłoszona przez Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników ; Ustanowiona przez Dyrektora Ośrodka Badawczo-Rozwojowego Podstaw Technologii i Konstrukcji Maszyn TEKOMA dnia 15 marca 1983 r. jako norma obowiązująca od dnia 1 października 1983 r. ; Zastępuje BN-69/3375-02.
Wyd. 3
Statistics
6Downloads
2Views
Mirowski, B., Pawlak, J., & Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników UNITRA-CEMI. Zakład Produkcji Podzespołów Elektronicznych (Toruń). (1983). Elementy optoelektroniczne - Fotorezystory - Metody pomiaru rozkładu widmowego czułości BN-83/3375-02.03. Wydawnictwa Normalizacyjne. https://hdl.handle.net/20.500.14629/4812
Loading...
Thumbnail Image
Files
BN_83_3375_02_03.pdf
PDF 1.01 MB
Licence
Public Domain
Accessibility issue?Request a WCAG-compliant file
Publication available in collections:
Industry Standards