Elementy optoelektroniczne - Fotorezystory - Metody pomiaru parametrów fotorezystorów czułych na podczerwień - Postanowienia ogólne BN-83/3375-02.00

Mirowski, Bolesław; Pawlak, Janusz; Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników UNITRA-CEMI. Zakład Produkcji Podzespołów Elektronicznych (Toruń)

Publication details

Type

Industry standard

Authors / Creators

Mirowski, Bolesław

Pawlak, Janusz

Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników UNITRA-CEMI. Zakład Produkcji Podzespołów Elektronicznych (Toruń)

Publisher

Wydawnictwa Normalizacyjne

Date

1983

Additional information

Zgłoszona przez Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników ; Ustanowiona przez Dyrektora Ośrodka Badawczo-Rozwojowego Podstaw Technologii i Konstrukcji Maszyn TEKOMA dnia 15 marca 1983 r. jako norma obowiązująca od dnia 1 października 1983 r. ; Zastępuje BN-69/3375-02.
Wyd. 3

Mirowski, B., Pawlak, J., & Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników UNITRA-CEMI. Zakład Produkcji Podzespołów Elektronicznych (Toruń). (1983). Elementy optoelektroniczne - Fotorezystory - Metody pomiaru parametrów fotorezystorów czułych na podczerwień - Postanowienia ogólne BN-83/3375-02.00 (, ed.). https://hdl.handle.net/20.500.14629/4810

Files

BN_83_3375_02_00.pdf

Download

PublicDomain

PDF1.15 MB

License

Public Domain

Accessibility issue?Request a WCAG-compliant file

Publication available in collections

Industry Standards