Elementy optoelektroniczne - Fotorezystory - Metoda pomiaru charakterystyki kątowej czułości BN-83/3375-02.04
dc.contributor.author | Mirowski, Bolesław | |
dc.contributor.author | Pawlak, Janusz | |
dc.contributor.author | Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników UNITRA-CEMI. Zakład Produkcji Podzespołów Elektronicznych (Toruń) | |
dc.date.accessioned | 2024-10-24T16:56:32Z | |
dc.date.available | 2024-10-24T16:56:32Z | |
dc.date.issued | 1983 | |
dc.description.additional | Zgłoszona przez Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników ; Ustanowiona przez Dyrektora Ośrodka Badawczo-Rozwojowego Podstaw Technologii i Konstrukcji Maszyn TEKOMA dnia 15 marca 1983 r. jako norma obowiązująca od dnia 1 października 1983 r. ; Zastępuje BN-69/3375-02. | |
dc.description.additional | Wyd. 3 | |
dc.format.type | application/pdf | |
dc.identifier.old | 7666 | |
dc.identifier.standard | BN-83/3375-02.04 | |
dc.identifier.standard | BN-3375-02-04:1983 | |
dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/20.500.14629/4814 | |
dc.language | pl | |
dc.language.other | en | |
dc.pubinfo | Warszawa | |
dc.publisher | Wydawnictwa Normalizacyjne | |
dc.rights | PublicDomain | |
dc.title | Elementy optoelektroniczne - Fotorezystory - Metoda pomiaru charakterystyki kątowej czułości BN-83/3375-02.04 | |
dc.type | IndustryStandard | |
dspace.entity.type | Publication | |
Files | ||
Publication available in collections: |