Elementy optoelektroniczne - Metody pomiaru parametrów fototranzystorów - Postanowienia ogólne BN-77/3375-44 Arkusz 00

dc.contributor.authorFornal, Tadeusz
dc.contributor.authorMalinowski, Jerzy
dc.contributor.authorCentrum Naukowo-Produkcyjne Półprzewodników i Mikroelektroniki. Instytut Technologii Elektronowej
dc.date.accessioned2024-10-24T16:56:59Z
dc.date.available2024-10-24T16:56:59Z
dc.date.issued1977
dc.description.additionalZgłoszona przez Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników ; Ustanowiona przez Dyrektora Generalnego Zjednoczenia Przemysłu Elektronicznego UNITRA dnia 22 września 1977 r. jako norma obowiązująca w zakresie czynności określonych normą od dnia 1 kwietnia 1978 r.
dc.description.additionalWyd. 3
dc.format.typeapplication/pdf
dc.identifier.old7674
dc.identifier.standardBN-77/3375-44 Arkusz 00
dc.identifier.standardBN-3375-44-00:1977
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.14629/4822
dc.languagepl
dc.publisherWydawnictwa Normalizacyjne
dc.rightsPublicDomain
dc.titleElementy optoelektroniczne - Metody pomiaru parametrów fototranzystorów - Postanowienia ogólne BN-77/3375-44 Arkusz 00
dc.typeIndustryStandard
dspace.entity.typePublication
Files

Original bundle

Name:
BN_77_3375_44_00.pdf
Size:
902.18 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Licence:
Description:
Pliki z importu
Download
Publication available in collections:
Industry Standards