Urządzenia pomiarowo-kontrolne stosowane przy produkcji wyrobów półprzewodnikowych - Ogólne wymagania i badania BN-86/5570-08

dc.contributor.authorKruszelnicki, Czesław
dc.contributor.authorNagy, Henryk
dc.contributor.authorPrzemysłowy Instytut Elektroniki (Warszawa)
dc.date.accessioned2024-10-24T17:20:46Z
dc.date.available2024-10-24T17:20:46Z
dc.date.issued1987
dc.description.additionalZgłoszona przez Przemysłowy Instytut Elektroniki ; Ustanowiona przez Dyrektora Naukowo-Produkcyjnego Centrum Półprzewodników dnia 2 października 1986 r. jako norma obowiązująca od dnia 1 kwietnia 1987 r.
dc.description.additionalWyd. 2
dc.format.typeapplication/pdf
dc.identifier.old7031
dc.identifier.standardBN-86/5570-08
dc.identifier.standardBN-5570-08:1986
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.14629/5269
dc.languagepl
dc.language.otheren
dc.pubinfoWarszawa
dc.publisherWydawnictwa Normalizacyjne
dc.rightsPublicDomain
dc.titleUrządzenia pomiarowo-kontrolne stosowane przy produkcji wyrobów półprzewodnikowych - Ogólne wymagania i badania BN-86/5570-08
dc.typeIndustryStandard
dspace.entity.typePublication
Files

Original bundle

Name:
BN_86_5570_08.pdf
Size:
3.62 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Licence:
Description:
Pliki z importu
Download
Publication available in collections:
Industry Standards