Sposób pomiaru spadku napięcia na zestyku materiał implantowany - elektroda probiercza
dc.abstract.pl | Sposób pomiaru spadku napięcia na zestyku materiał implantowany - elektroda probiercza, polegający na pomiarze spadku napięcia przy zadanej wartości prądu stałego i określonej sile docisku elektrody probierczej do materiału implantowanego charakteryzuje się tym, że badany materiał umieszcza się w implantatorze, kolejno poddaje się go implantacji, mierzy się spadek napięcia, podczas zatrzymania implantacji, przy czym pomiar spadku napięcia powtarza się przy kolejnych dawkach jonów implantowanych, aż do momentu osiągnięcia ustalonej wartości spadku napięcia w niezmiennym układzie pomiarowym i tych samych warunkach. | |
dc.affiliation | POLITECHNIKA LUBELSKA | |
dc.contributor.author | Żukowski, Paweł | |
dc.contributor.author | Karwat, Czesław | |
dc.contributor.author | Komarow, Faddiej F. | |
dc.contributor.author | Latuszyński, Andrzej | |
dc.contributor.author | Liśkiewicz, Jerzy | |
dc.contributor.author | Mączka, Dariusz | |
dc.contributor.author | Partyka, Janusz | |
dc.contributor.author | Węgierek, Paweł | |
dc.date.accessioned | 2024-12-19T13:09:41Z | |
dc.date.application | 1995-06-08 | |
dc.date.available | 2024-12-19T13:09:41Z | |
dc.date.issued | 1995 | |
dc.date.publicationbup | 1996-12-09 | |
dc.date.publicationwup | 1999-04-30 | |
dc.description.classification | G01N 27/00 19950101AFI19981029BHPL | |
dc.description.classification | G01R 31/00 19950101ALI19981029BHPL | |
dc.identifier.bup | BUP 25/1996 | |
dc.identifier.patent | Pat.176165 | |
dc.identifier.publication | P.309058 | |
dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/20.500.14629/17412 | |
dc.identifier.weblink | https://ewyszukiwarka.pue.uprp.gov.pl/search/pwp-details/P.309058 | |
dc.identifier.wup | WUP 04/1999 | |
dc.language | polski | |
dc.patent.country | PL | |
dc.patent.name | Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej | |
dc.publisher | Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej | |
dc.subtype | Invention | |
dc.title | Sposób pomiaru spadku napięcia na zestyku materiał implantowany - elektroda probiercza | |
dc.title.alternative | Method of measuring voltage drop across a contact point between implanted material and probe electrode | |
dc.type | Patent | |
dspace.entity.type | Publication | |
Files | ||
Publication available in collections: |