Elementy optoelektroniczne - Fotorezystory - Metody pomiaru rozkładu widmowego czułości BN-83/3375-02.03

dc.contributor.authorMirowski, Bolesław
dc.contributor.authorPawlak, Janusz
dc.contributor.authorNaukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników UNITRA-CEMI. Zakład Produkcji Podzespołów Elektronicznych (Toruń)
dc.date.accessioned2024-10-24T16:56:26Z
dc.date.available2024-10-24T16:56:26Z
dc.date.issued1983
dc.description.additionalZgłoszona przez Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników ; Ustanowiona przez Dyrektora Ośrodka Badawczo-Rozwojowego Podstaw Technologii i Konstrukcji Maszyn TEKOMA dnia 15 marca 1983 r. jako norma obowiązująca od dnia 1 października 1983 r. ; Zastępuje BN-69/3375-02.
dc.description.additionalWyd. 3
dc.format.typeapplication/pdf
dc.identifier.old7664
dc.identifier.standardBN-83/3375-02.03
dc.identifier.standardBN-3375-02-03:1983
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.14629/4812
dc.languagepl
dc.language.otheren
dc.pubinfoWarszawa
dc.publisherWydawnictwa Normalizacyjne
dc.rightsPublicDomain
dc.titleElementy optoelektroniczne - Fotorezystory - Metody pomiaru rozkładu widmowego czułości BN-83/3375-02.03
dc.typeIndustryStandard
dspace.entity.typePublication
Files

Original bundle

Name:
BN_83_3375_02_03.pdf
Size:
1.01 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Licence:
Description:
Pliki z importu
Download
Publication available in collections:
Industry Standards